我手头上有一个任务,需要像下面的样本(微芯片照片的一部分)那样检测图像的角度。图像确实包含正交特征,但是它们可以具有不同的大小,具有不同的分辨率/清晰度。由于某些光学畸变和像差,图像会有些瑕疵。要求亚像素角度检测精度(即误差应在<0.1°以内,可以容忍0.01°之类的误差)。作为参考,此图像的最佳角度约为32.19°。
目前,我已经尝试了2种方法: 两者都以2°的步进进行强力搜索,找到一个最小值,然后梯度下降到0.0001°的步进大小。
边缘检测过滤器并没有太大帮助。
我担心的是,两种情况下,优值函数在最坏和最佳角度之间的变化很小(<2x差)。
您对编写用于角度检测的优点函数有更好的建议吗?