在VLSI测试中，为什么我们要在DFT（可测试性设计）中插入扫描之前执行mbist？

Question

在DFt（可测试性设计）中，我们可以在DFT Flow的任何阶段执行MBIST，但是在扫描插入之前执行Mbist的具体优势是什么。

Answer 1

有时候，为了方便测试，我们必须将测试向量存储在SRAM中。 因此，我们执行MBIST并确保我们的内存可以正常工作以存储测试向量，然后使用存储的测试向量进行扫描插入。

希望我回答了你的问题..

Answer 2

我假设您正在谈论dft插入阶段，而不是测试执行阶段。

在mbist之后执行扫描插入可以使mbist插入的电路可测试，从而增加测试覆盖范围。