如何从EELS光谱中的边缘自动获取信号和误差？

Question

  

是否有一些DM脚本功能或任何其他方式来获取信号积分和信号积分的误差从频谱图像或一系列背景扣除的EELS光谱？

我正在分析DigitalMicrograph中的一系列EELS光谱。我使用DM中的常规工具来获取背景扣除后不同窗口中的信号计数。当我一次分析一个光谱时（例如使用EELS \ Quantification ...，并选择“单光谱”），除了光谱信号之外，我还得到了误差的估计。

例如，我得到：Signal (counts): 2.91e+004 ± 1366。

但是，如果我分析光谱图像或光谱线中的全系列光谱（ SI \ Map \ Signal（动态）...... 或 ELLS \ Quantification ，但选择父谱图像），我无法获得错误，我只获得信号计数。

Answer 1

此功能没有脚本访问权限。但是，人们可以很容易地自己做数学。

EELS分析中给出的误差（ GMS 2 ）只是泊松统计计算的探测器读数的不确定性，即Sqrt(N)其中N是积分强度相应能量区域（在背景扣除之前）。如果存在强度校准，则会将其考虑在内。