我想计算在ARM cortex-M4(或cortex-M3)处理器上执行的每个循环的指令数。
需要的是:指令数量(在运行时执行)我想要分析的代码和代码执行的周期数。
1 - 周期数
使用循环计数器非常简单直接。
volatile unsigned int *DWT_CYCCNT ;
volatile unsigned int *DWT_CONTROL ;
volatile unsigned int *SCB_DEMCR ;
void reset_timer(){
DWT_CYCCNT = (int *)0xE0001004; //address of the register
DWT_CONTROL = (int *)0xE0001000; //address of the register
SCB_DEMCR = (int *)0xE000EDFC; //address of the register
*SCB_DEMCR = *SCB_DEMCR | 0x01000000;
*DWT_CYCCNT = 0; // reset the counter
*DWT_CONTROL = 0;
}
void start_timer(){
*DWT_CONTROL = *DWT_CONTROL | 1 ; // enable the counter
}
void stop_timer(){
*DWT_CONTROL = *DWT_CONTROL | 0 ; // disable the counter
}
unsigned int getCycles(){
return *DWT_CYCCNT;
}
main(){
....
reset_timer(); //reset timer
start_timer(); //start timer
//Code to profile
...
myFunction();
...
stop_timer(); //stop timer
numCycles = getCycles(); //read number of cycles
...
}
2 - 说明数量
我在互联网上找到了一些文档来计算arm cortex-M3和cortex-M4(link)执行的指令数量:
# instructions = CYCCNT - CPICNT - EXCCNT - SLEEPCNT - LSUCNT + FOLDCNT
他们提到的寄存器记录在here(第11-13页),这些是访问它们的内存地址:
DWT_CYCCNT = 0xE0001004
DWT_CONTROL = 0xE0001000
SCB_DEMCR = 0xE000EDFC
DWT_CPICNT = 0xE0001008
DWT_EXCCNT = 0xE000100C
DWT_SLEEPCNT = 0xE0001010
DWT_LSUCNT = 0xE0001014
DWT_FOLDCNT = 0xE0001018
DWT_CONTROL寄存器用于启用计数器,尤其是循环计数器,如文档here所述。
但是,当我试图将所有数据放在一起计算每个周期执行的指令数时,我没有成功。
Here有一个关于如何在gdb中使用它们的小指南。
不容易的是,有些寄存器是8位寄存器(DWT_CPICNT,DWT_EXCCNT,DWT_SLEEPCNT,DWT_LSUCNT,DWT_FOLDCNT),当它们溢出时会触发事件。我没有找到收集该事件的方法。没有代码片段可以解释如何执行此操作或中断适合该操作的例程。
此外,在这些寄存器的地址上使用gdb的观察点似乎不起作用。当寄存器改变值时,gdb无法停止。例如。在DWT_LSUCNT:
(gdb) watch *0xE0001014
更新:我在GitHub上发现了这个project,解释了如何使用DWT,ITM和ETM单元。但我没有检查它是否有效!我会发布更新。
有关如何使用它们的想法吗?
谢谢!
答案 0 :(得分:2)
您提供的代码示例在清除启用位时存在问题。你应该清楚地说'AND'而不是'OR':
*DWT_CONTROL = *DWT_CONTROL & 0xFFFFFFFE ; // disable the counter by clearing the enable bit
答案 1 :(得分:1)
我不知道如何以你想要的方式使用寄存器。但是,这是我如何处理测量周期。
确保在SysTick Control and Status Register启用计数器。使用适当的标头,您应该可以访问SysTick寄存器作为结构。
测量计数器功能所采用的周期数。随后从任何测量值中减去。
SysTick->VAL = 0; // set 0
// Measure delay on measurement
__disable_irq();
a = (uint32_t) SysTick->VAL;
//... measuring zero instructions
b = (uint32_t) SysTick->VAL;
__enable_irq();
measure_delay = a - b;
现在测量一个功能。
SysTick->VAL = 0;
__disable_irq();
a = (uint32_t) SysTick->VAL;
//Assuming this function doesn't require interruptions
// INSERT CODE TO BE PROFILED
function_to_be_examined();
b = (uint32_t) SysTick->VAL;
__enable_irq();
cycles_profiled_code = a - b - measure_delay;
我希望它有所帮助。
答案 2 :(得分:1)
我认为如果你想测量精度周期,使用调试器是一个不错的选择。 Keil-MDK可以累积状态寄存器,不会溢出。调试器中的结果与使用DWT的结果相同。
如果你想测量其他值,即FOLDCNT,使用Keil-MDK中的跟踪 - >调试 - >设置 - >追踪 - >跟踪启用。
有了这个,在调试时,在Trace Windows中选择trace事件,这些8位寄存器的值可以由Keil收集并加在一起。
这似乎有点愚蠢,但我不知道如何收集溢出事件,我认为此事件只能发送给ITM,因为DWT或ITM是程序之外的单独组件。如果我们想在客户计划中收集事件,收集操作必须影响结果的准确性。
ITM? ETM?的CoreSight? DWT?AHB?