OpenCV中的自定义SIFT检测器

Question

有没有办法在OpenCV中指定自定义SIFT检测器参数？

似乎FeatureDetector constructor不接受任何参数，而似乎可以在SIFT constructor中指定这些参数。

我正在进行徽标检测。 一些徽标的纹理信息非常低，所以我想在太少的时候检测更多的关键点（我可以增加SIFT的edgeThreshold？）。

Answer 1

可以创建custom SIFT descriptor extractor：

SIFT siftDetectorExtractor = SIFT(200, 3, 0.04, 15, 1.6);

Mat logo = imread("logoName.jpg");

vector<KeyPoint> keyPoints;
Mat sifts;
siftDetectorExtractor(logo, Mat(), keyPoints, sifts);

或使用探测器类：

Ptr<FeatureDetector> detector = Ptr<FeatureDetector>( new SIFT( <your arguments> ) );