我在英特尔开发人员手册中找到了这一段：
从主题“用SSE3，SSSE3，SSE4和AESNI编程”
不得使用流加载来引用该内存地址 映射到具有副作用的I / O设备或读取这些副作用时 设备是破坏性的。这是因为MOVNTDQA是推测性的 性质。
任何人都可以澄清这个问题吗？
我问，因为我正在考虑将一些SSE程序集应用于OpenGL mapped buffer objects，但我担心破坏性这个词。这个主题是否适用于映射内存？实际上我不知道glMapBuffer调用的背后是什么。
我不认为我的显卡会被破坏（:)，但肯定这个词听起来不太好。
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这里的破坏性是指只能执行一次的读取，例如当设备提供内存映射方式以从其队列中读取下一个项目时。在这种情况下，第二次从那个位置读取会得到第二个结果。这是不好的，因为MOVNTDQA是推测性的，因此即使由于错误预测的分支最终跳过指令，也可以执行获取。第一次获取的数据将被无可挽回地破坏，但对硬件没有实际损害。
由于您只是尝试访问其他设备上的普通RAM，而不是MMIO寄存器，因此您无需担心。