我想知道用于64/72位SEC_DED编码的奇偶校验/综合征生成是标准化的还是使用事实上的方法。我正在阅读一些论文，所有这些论文似乎都有不同的组合来生成校验位。
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没有标准，但此处描述了实际使用的方法：
https://www.xilinx.com/support/documentation/application_notes/xapp383.pdf
或此处：
https://www.youtube.com/watch?v=ms-Lnm1wJ48
后者解释了它如何映射到DRAM（使用64 / 72b编码），尽管一旦您了解了一般概念，就可以轻松地将其适应于任意数量的位。
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使用了各种不同的H矩阵。我相信从M. Y. Hsiao那里可以找到一种计算方法的原始文章-一类最佳最小奇数列SEC-DEC代码：https://people.eecs.berkeley.edu/~culler/cs252-s02/papers/hsiao70.pdf
不同的矩阵丢失校正三重错误或检测四重错误的概率略有不同。参见表2。