我有一个问题。因此,我正在尝试实施David Lowe教授的SIFT(尺度不变性特征变换)论文。
我的问题是关于像素间距离。我认为降采样后像素数量会发生变化(因为在二次采样后,矩阵表示的图像将在每个维度上缩小为较小的尺寸),但是像素间的距离保持不变。但是我正在阅读论文“ Anatomy of SIFT”,该论文指出,在降采样(二次采样)2后,像素间距离增加了一倍。
我想念什么吗?有人可以纠正我的理解吗? 谢谢!
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根据定义,在未校准的坐标中,像素间距为1。
在校准坐标中,距离取决于采样率,并随着下采样而增加。