DigitalMicrograph TEM控制“梁空白”

Question

我一直在努力使用DM脚本自动化获取一系列图像的过程。在采集之间存在处理时间，电子束仍在照射样品。是否有任何DM脚本功能用于控制光束空白（因此它也适用于光束敏感材料）？我很感激任何反馈/回应。

Answer 1

GMS 3.2 有这样的命令 - 但并非所有系统都支持它。您可以使用EMHasBeamBlanker()进行检查，然后使用EMSetBeamBlanked( bool )和bool EMGetBeamBlanked()