我正在研究一个项目，试用NXP的NT3H2211 IC，它是一个NFC标签，包含一个64字节的SRAM，可以映射到NFC接口可见的地址空间。 IC包含在此开发套件中：NTAGI²CplusExplorer Kit（http://www.nxp.com/demoboard/OM5569）。
该SRAM可用于使用任何标准NFC读取器动态更改正在读取/写入的数据，而不会在几个小时内耗尽EEPROM区域（例如，读取传感器数据或流数据进行处理;从机器读取实时数据）作为非接触式调试界面等。）。
我还是Android编程的新手（在Android Studio中），在教程视频系列的帮助下，我设法构建了一个可以一次读取标签的应用程序，一旦手机被点击它。根据我的理解，该应用程序通过等待包含已找到NFC标签的某种信息的意图来实现此目的。
我不断用有效的自动生成的NDEF明文消息更新Tag的SRAM（目前只包含我的电路板的正常运行时间），因此我希望能够读取标签不断。
恩智浦提供的演示应用程序（NTAGI²CDEMO）可以做到这一点;有一节用于阅读NDEF记录。通过选中“启用NDEF读取循环”复选框，可以将NDEF读取器设置为连续读取。有了这个，我可以看到我的数据更新。 该应用程序也不依赖于必须移除手机并将其重新点击到标签以执行操作 - 一旦标签在手机的阅读器上，每个功能都可以在不重新点击的情况下使用。
我想在我自己的应用程序中加入这样的功能集;每次我想要更新我的屏幕数据时不得不重新点击一段时间后会非常令人沮丧。
我不完全确定如何重新使用最初用于检测然后读取标签的意图;也许这就是关键。
如果您需要代码，请说明。我真的很感谢你花时间帮助我！
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演示应用的源代码可在http://www.nxp.com/documents/software/SW3648.zip获得。
您应该能够在事件发生后通过设置适当的标记来连续阅读。