用Labview排出3V纽扣电池，测试电池的使用寿命？

Question

我想模拟/测量3V纽扣电池的使用寿命。这是给电池爆发的电路：

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使用CTRL1和CTRL2行控制突发，并提供一些时序要求。

一阵是：

                ARM    TX   RX     TX      RX   TX
CTRL1           L      H    H      H       H    H
CTRL2           H      H    L      H       L    H
Length (ms)     3.72   2.6  0.84   4.04    0.8  1

H = 10 V
L = 0 V

现在我想通过应用一个突发间隙一个突发间隙等来耗尽电池。 差距应该是可变的。首先，我想用10秒作为差距。我想绘制电池特性。我想模拟例如5年，模拟中应该是1.2天。我有NI PCI 6221（37针）DAQ卡。有人可以帮我为这个项目制作一个VI。突发应该是一个循环，我应该能够控制它应该运行多长时间（即1天，或1.5天）以及我如何在Labview中的CTRL1和CTRL2行应用10 V或0 V？

提前致谢。

修改

好的我现在已经不断获取电压和图形VI，它具有物理通道作为输入电压的输入。但我不知道如何做计数器部分，它将输出TTL（MOSFET）的定时信号，以产生具有间隙的突发信号，然后将耗尽电池。

Answer 1

从DAQ助手开始。寻找包含此VI的教程。 在框图中查看Measurement I / O＆gt; DAQmx - 数据采集＆gt; DAQ助理。您应该可以将它连接到您的DAQ卡。

同时查看NI Forums。

编辑：如果您不熟悉或不熟悉LabVIEW，只需浏览National Instruments \ LabVIEW x.x \ examples中的示例代码即可。对于您的应用程序，示例\ DAQmx可能具有相关代码。首先坚持基础知识，例如examples \ general。您甚至可以修改示例，只是不要意外覆盖。