我工作的实验大学正在购买用于扫描3D物体的激光扫描仪。从一开始我们一直在努力寻找能够从实际扫描表面捕获真实RAW法线的扫描仪。似乎大多数扫描仪只捕获点，然后软件进行插值以找到近似表面的法线。
是否有人知道是否存在捕获原始法线这样的事情？是否有扫描仪可以执行此操作而不是从点数据中插入法线？
答案 0 :(得分：2)
极不可能。激光扫描使用范围完成。你想要的是结合两种完全不同的技术。可以使用良好控制的照明等以更高的精度评估法线，但需要非常不同类型的设置。还要考虑采样问题：分辨率高于位置数据的法线有什么用处？
答案 1 :(得分：2)
如果您已经知道构成3D对象的材质的bidirectional reflectance distribution function，则可以使用gonioreflectometer来比较测量的BRDF。然后，您可以通过将假设的BRDF与实际测量值进行比较，单独优化该点的计算法线。
不可否认，这将是一项计算密集型计算任务。但是，如果您只是很少经历这个过程，那么它可能是可行的。
有关详细信息，我建议您与Greg Ward (Larson)成名Radiance或Peter Shirley在NVIDIA上发言。
答案 2 :(得分：2)
以下是使用结构光从渐变重建法线的示例文章。 Shape from 2D Edge Gradients
我没找到我正在寻找的确切文章，但这似乎是基于相同的原则。 在对象上变形后，您可以从条纹的角度和宽度重建法线。
答案 3 :(得分：1)
您可以使用结构光+相机设置 法线将来自投影线与图像上的位置之间的角度。正如其他海报所指出的那样 - 你无法通过点激光扫描仪来做到这一点。
答案 4 :(得分：1)
捕获原始法线几乎总是使用光度立体声来完成。这几乎总是需要对底层反射进行一些假设，但即使有一些不准确的法线，当将它们与另一个数据源组合时，通常也可以做得很好：
将点云（例如激光扫描）与曲面法线相结合的非常好的代码：http://www.cs.princeton.edu/gfx/pubs/Nehab_2005_ECP/