调试期间无限循环

Question

我正在使用STM32 eval2板并尝试调试它。它曾经工作正常，我没有改变任何东西，但是在过去一周左右的时间里，我总是陷入这个循环，而我处于调试器模式，但是当我不是时，程序运行正常。

while(!__HAL_SD_SDIO_GET_FLAG(hsd, SDIO_FLAG_RXOVERR | SDIO_FLAG_DCRCFAIL | SDIO_FLAG_DTIMEOUT | SDIO_FLAG_DBCKEND | SDIO_FLAG_STBITERR))
{
if(__HAL_SD_SDIO_GET_FLAG(hsd, SDIO_FLAG_RXDAVL))
{
  *(tempscr + index) = SDIO_ReadFIFO(hsd->Instance);
  index++;
}
}

我甚至试过运行ST提供的用于电路板的示例项目代码，没有改变它的任何内容，并且我在代码中也陷入了相同的while循环。

有人知道我在做错了什么吗？它没有意义，因为没有任何改变。

while循环中的变量定义的错误分别为：

收到FIFO溢出错误

发送/接收数据块（CRC校验失败）

数据超时

发送/接收数据块（通过CRC校验）

在宽总线模式下未检测到所有数据信号的启动位

并且看起来在这个while循环中，如果有意义的话，它会在if语句中卡住“接收FIFO中的数据”标志。我无法跨过那句话。

我正在使用keil v5和用c ++编程

好吧，我一直在努力解决这个问题已经持续了一个星期，而且几乎在我发布这个问题之后我就把它搞清楚了。

我有SD卡，由于某种原因将其取出固定。所以我会留下这个，万一其他人都有这个愚蠢的问题。

Answer 1

好吧，我一直在努力解决这个问题已经持续了一个星期，而且几乎在我发布这个问题之后我就把它搞清楚了。

我有SD卡，由于某种原因将其取出固定。所以我会留下这个以防其他人有这个愚蠢的问题。